La première édition des Journées de Spectroscopies Electroniques se tiendra à Strasbourg, les 23 et 24 janvier 2018. Organisée par la SFV, elle sera également soutenue par la Société Française de Physique.

Les Journées des Spectroscopies d’Electrons (JSE) SFV-SFP visent à rassembler annuellement de façon dynamique, dans un format court, la communauté nationale des spécialistes et des utilisateurs des spectroscopies d’électrons prises au sens large : photoémission, émission Auger et microscopies associées ; techniques de LEEM, REELS et HREELS ; rayonnement synchrotron…

Cette première édition des JSE fait suite à une préfiguration à petite échelle qui s’est tenue à Paris en mai dernier, rassemblant environ 50 participants.

Les Journées se tiendront en partenariat étroit avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI) qui se déroulent à la suite, dans le même lieu (facilités d’inscriptions sur les deux évènements JSE et JSI). Elles s’articuleront autour d’exposés invités, contributeurs, et posters qui donneront un panorama des approches innovantes et des résultats marquants actuels. Un Focus Thématique sur l’imagerie donnera un panorama complet sur les méthodes actuelles d’imagerie et microscopie par émission d’électrons (principes de base, apports et champs d’application), grâce à l’intervention de spécialistes du domaine.

Dans cette dernière partie des Journées, une place importante sera accordée aux échanges de manière à répondre aux questions des futurs utilisateurs.

 

Programme scientifique

Les Journées des Spectroscopies d’Electrons se dérouleront sur 2 jours, du mardi 23 janvier 10:00 (accueil par un café) au mercredi 24 janvier 12:30, entrecoupés d’un dîner de convivialité au cœur de Strasbourg le 23 janvier au soir.

Cinq contributions « keynote », choisies de manière à refléter la transversalité thématique (technique(s) utilisée(s), systèmes étudiés, nouvelles infrastructures…) et géographique, feront le point sur l’avancée d’un domaine. Des présentations orales contributives viendront compléter ces exposés. Deux sessions posters lors des pauses permettront des échanges plus rapprochés avec les intervenants.

Les constructeurs soutenants financièrement l’évènement auront un stand pour diffuser leurs dernières innovations techniques.

 

Focus thématique

Un Focus Thématique sur l’imagerie donnera un panorama complet sur les méthodes actuelles d’imagerie et microscopie par émission d’électrons (principes de base, apports et champs d’application), grâce à l’intervention de spécialistes du domaine. Dans cette dernière partie des Journées, une place importante sera accordée aux échanges de manière à répondre aux questions des futurs utilisateurs.

  • Principes et applications des microscopies par émission d’électrons (LEEM, PEEM, XPEEM)
    Nick Barrett
    CEA-IRAMIS, Saclay
  • Imagerie par nano-sonde Auger avancée
    Eugénie Martinez
    CEA-LETI, Grenoble
  • Imagerie EPES
    Christine Robert-Goumet
    Université Blaise Pascal, Clermont-Ferrand
  • Imagerie par faisceau synchrotron
    En attente de confirmation

http://www.jse-surfaces.org/