Le prix Yves Rocard, remis par la SFP, récompense un transfert de technologie réussi entre un laboratoire académique et une entreprise.

Le Prix "Yves Rocard 2014", décerné le 17 septembre 2014, a récompensé le "ResiScope II" pour son innovation instrumentale et pour le succès du transfert de technologie entre un laboratoire académique et une société privée. 

Sur la base des travaux de la thèse d'Olivier Schneegans, en collaboration avec le LGEP (Laboratoire de Génie Electrique de Paris), les sociétés ScienTec - CSInstruments ont élaboré un dispositif de caractérisation électrique large dynamique en AFM (Microscopie à Force Atomique).

Voici une présentation succinte du principe du ResiScope développé par l'équipe lauréate : celle-ci est constituée d'Olivier SCHNEEGANS (LGEP), Pascal CHRETIEN (LGEP), Frédéric HOUZE et Didier PELLERIN (ScienTec).

Nous créerons prochainement un article sur la cérémonie de remise du prix qui s'est déroulée au salon ENOVA PARIS.

 

Le ResiScope II

Associé à un AFM muni d’une pointe-sonde conductrice en contact avec la surface de l'échantillon, le "ResiScope II" réalise des mesures locales de résistance sur une dynamique de 10 décades (10² ohms à 1012 ohms), à une cadence pouvant atteindre 5 kHz. Cette dynamique exceptionnelle le rend sans équivalent au monde.

Principe du Resiscope

 

 

 

Le Soft-ResiScope 

2014 est une année riche en évènement pour le ResiScope puisque CSI vient d'introduire un nouveau mode : "Le Soft ResiScope"
Ce mode unique et innovant permet désormais d'élargir les domaines d'applications du "ResiScope II" à des échantillons fragiles tels que les cellules solaires organiques, les polymères conducteurs ou autres échantillons biologiques, tout en conservant sa large plage de mesure (10 décades).

Le principe du Soft ResiScope est basé sur un contact intermittent. L'absence de friction et le contact ponctuel à force constante de la pointe sur l'échantillon permet d'obtenir des mesures quantitatives sans abimer la surface d'échantillons délicats.  Ce nouveau mode, disponible uniquement sur l'AFM Nano-Observer, ouvre aujourd'hui de nouvelles perspectives pour la caractérisation électrique des échantillons mous !

Principe du Soft ResiScope, mode AFM intermittent pour les échantillons délicats.

 

 

Résultats du ResiScope :

 Lire le communiqué de presse sur la Remise du Prix Yves Rocard 2014

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